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芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L

簡要描述:

芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L
適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天制品、科研等行業。滿足試驗標準:

型號:THB-1000PF 瀏覽量:1049
更新時間:2023-10-29 是否能訂做:是

芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L

技術參數:

  1.溫度范圍:-20℃~150℃

       2.濕度范圍:20%~98%R.H  

      3.溫度均勻度:≤±2℃ (空載時)

  4.濕度均勻度:+2% -3%R.H

  5.溫度波動度:≤±0.5℃ (空載時)

  6.濕度波動度:±2%

  7.溫度偏差:≤±2℃

  8.濕度偏差:≤±2%

  9.降溫速率:0.7~1.0℃/min

  10.升溫速率:1.0~3.0℃/min

  11.時間設定范圍:0~999 小時

  12.電源電壓:380V±10%

  13.設備總功率:3KW~15KW

 

控制系統:

1. 采用*品牌溫濕度儀表,5.7英寸高清真彩液晶觸摸顯示屏。

2. 實時監控(監控控制器實時數據,信號點狀態,實際輸出狀態)。

3. 曲線記錄功能3.3.1.控制器可存儲600天內歷史數據(24小時運行狀態下,記錄間隔1min以上,溫濕度數據同時記錄時),且可回放上傳的控制內歷史數據曲線。

4.可通過隨機贈送軟件將導出來的文件在電腦查看或轉成EXCEL格式。

5.儀表配備RS232/485端口。

7.具有自動演算的功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更

 

芯片老化測試高低溫交變濕熱試驗箱1000L

恒溫恒濕試驗箱的滿足國標:

符合標準:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008試驗A、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.3-2006試驗Ca、GB/T2423.4-2008試驗Db

加熱系統

1、采用遠紅外鎳合金高速加溫(2KW×2)電加熱器
2、高溫*獨立系統,不影響低溫試驗、高溫試驗及交變濕熱
3、溫濕度控制輸出功率均由微電腦演算,以達高精度及高效率之用電效益標準型恒溫恒濕試驗箱電路控制系統1、進口數顯觸摸按鍵,PID微電腦SSR溫度控制器(日本RKC儀表);
2、精度:0.1℃(顯示范圍)
3、分辨率:±0.1℃;
4、感溫傳感器:PT100鉑金電阻測溫體;
5、控制方式:熱平衡調溫調濕方式;所有電器均采用(施耐德)系列產品
6、溫度控制采用P . I . D+S.S.R系統同頻道協調控制   
7、具有自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩定
8、控制器操作界面設中英文可供選擇,實時運轉曲線圖可由屏幕顯示
9、具有RS-232或RS-485遠程通訊界面,可在電腦上設計程序,查看試驗過程并執行自動開關機等功能
10、控制器具有熒屏自動屏保功能,在長時間運行狀態下更好的保護液晶屏(使其壽命更長久)
11、本試驗箱回風口具有自動除霜裝置(這樣才能使試驗時產生的水蒸氣不會聚集在制冷蒸發器上,產生    冰堵現象)

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